
作為國內率先實現高精度數字源表(SMU)產業化的半導體測試裝備優質供應商,普賽斯儀表副總經理王承博士受邀出席并發表《SiC耗油率半導體芯片控制模塊測式擊敗及要對》主題演講。

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會上,普賽斯儀表副總經理王承博士闡述了如何準確可靠地實現SiC功率器件的測試方案,以新能源領域車規級功率器件參數測試為切入點,分享了在新能源領域功率器件成套解決方案等方面的關鍵舉措。本場演講重點介紹了普賽斯儀表實驗室、高低溫、產線半自動/全自動等功率半導體靜態參數測試解決方案,廣泛(fan)適用(yong)于從實驗室到小批(pi)(pi)(pi)量(liang)、大(da)批(pi)(pi)(pi)量(liang)產(chan)線的全(quan)方(fang)位應用(yong),幫助國(guo)產(chan)功率(lv)半(ban)導體(ti)廠商加(jia)快(kuai)研(yan)發(fa)測試以及批(pi)(pi)(pi)量(liang)化生(sheng)產(chan)進程。
普賽斯功效配件空態參數指標測試方法系統,是武漢普賽斯經過精心設計與打造的高精密電壓/電流測試分析系統。該系統不僅提供IV、CV、跨導等多元化的(de)測(ce)試功能,還具(ju)備高精度、寬(kuan)(kuan)測(ce)量(liang)范圍、模(mo)塊化設(she)計(ji)以及(ji)便捷(jie)的(de)升(sheng)級擴展等顯著優(you)勢。其設(she)計(ji)初(chu)衷在于(yu)全面滿足從基礎功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到(dao)寬(kuan)(kuan)禁帶半導體SiC、GaN等晶圓、芯片、器(qi)件及(ji)模(mo)塊的(de)靜(jing)態參數表(biao)征和測(ce)試需求,確保測(ce)量(liang)效率、一致性(xing)與可靠性(xing)的(de)優(you)異表(biao)現。

PMST效率(lv)集成(cheng)電(dian)路芯片靜態變量參數值各種(zhong)測試模式(shi)

PSS TEST冗余高恒溫自動定位式測試軟件模式

PMST-MP 靜(jing)態變量因(yin)素半(ban)定時化檢(jian)查軟件

PMST-AP 靜態數據數據全自功化測(ce)量程序(xu)
大電流輸出響應快,無過沖

高壓測試支持恒壓限流,恒流限壓模式

普賽斯儀表作為半導體電性能測試領域的權威解決方案供應商,始終秉持創新技術與匠心精神的融合,深耕于功率半導體市場。
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